BCN薄膜XPS结构分析时荷电效应的校正

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中国表面工程 ›› 2006, Vol. 19 ›› Issue (1) : 16-20.

工程应用

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Correction of Charging Effect on Structure Analyse of BCN Films by XPS

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{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}, 2006, 19(1): 16-20

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ISSN 1007-9289　CN 11-3905/TG
主管：中国科学技术协会
主办：中国机械工程学会
编辑出版：《中国表面工程》编辑部

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